位相分解光学周波数領域画像化を行うための装置、方法及びシステム

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：正林真之 , 林一好 , 八木澤史彦
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2008514878
Publication number (International publication number)：2008545970
Application date： Jun. 01, 2006
Publication date： Dec. 18, 2008
Summary：

参照部及びサンプルから受けた信号を利用する装置、システム及び方法を提供する。特に、放射は、サンプルに向かう少なくとも1つの第1電磁放射及び参照部に向かう少なくとも1つの第2電磁放射を含む。放射の周波数は、時間経過とともに変化する。干渉は、第1電磁放射に関連した1つ以上の第3放射と、第2電磁放射に関連した1つ以上の第4放射との間で検出できる。干渉における少なくとも1つの周波数成分についての1つ以上位相と関連した特定の信号を得て、この特定の信号を、1つ以上の特定の情報と比較することができる。更に、放射の少なくとも一部を受けて、更に別の放射を提供することができ、これにより、前記特定の信号を追加的な信号に基づいて較正できる。【選択図】図1C

Claim (excerpt)：

放射を提供する1つ以上の第1装置であって、該放射がサンプルに向かう少なくとも1つの第1電磁放射及び参照部に向かう少なくとも1つの第2の電磁放射を含み、時間経過につれて周波数が変化する前記放射を提供する第1装置と、前記少なくとも1つの第1電磁放射に関連した1つ以上の第3放射と、前記少なくとも1つの第2電磁放射に関連した1つ以上の第4放射との間の干渉を検出可能な1つ以上の第2装置と、を備え、前記1つ以上の第2装置が、前記干渉における少なくとも1つの周波数成分の1つ以上の位相に関連した特定の信号を得て、該特定の信号を、少なくとも1つの特定の情報と比較する機能をもつ装置。

IPC (3)：

G01N 21/17 , G01B 9/02 , A61B 10/00

FI (3)：

G01N21/17 630 , G01B9/02 , A61B10/00 E

F-Term (27)：

2F064AA09 , 2F064EE01 , 2F064FF08 , 2F064GG02 , 2F064GG12 , 2F064GG24 , 2F064GG44 , 2F064GG49 , 2F064GG51 , 2F064HH06 , 2F064JJ01 , 2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059BB13 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059EE12 , 2G059FF02 , 2G059GG01 , 2G059JJ03 , 2G059JJ05 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ19 , 2G059JJ22 , 2G059MM01 , 2G059MM09

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-353884 Applicant：マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
光周波数掃引式断層画像測定方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-142584 Applicant：吉村武晃, 大研医器株式会社
特表平6-511312

Cited by examiner (5)

光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-353884 Applicant：マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
光周波数掃引式断層画像測定方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-142584 Applicant：吉村武晃, 大研医器株式会社
特表平6-511312

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