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J-GLOBAL ID：200903008274827579

バツテリパツク及びバツテリパツクの制御方法

Inventor： 江口 安仁
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 田辺 恵基
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996182778
Publication number (International publication number)：1998012283
Application date： Jun. 24, 1996
Publication date： Jan. 16, 1998
Summary：

【要約】【課題】本発明は、バツテリパツク及びバツテリパツクの制御方法について、バツテリセルの性能を安定し得るようにする。【解決手段】本発明は、低消費電力モード時、起動手段によりバツテリセル群の端子電圧値又は各バツテリセル毎のそれぞれ端子電圧値を測定し、バツテリセル群の端子電圧値が第1の端子電圧値まで低下してとき、又は少なくとも1つのバツテリセルの端子電圧値が第2の端子電圧値まで低下したときに内部電圧検出手段を起動させ、当該内部電圧検出手段が各バツテリセル毎の内部電圧値を検出し、少なくとも1つのバツテリセルの内部電圧値が第1の内部電圧値まで低下したときに停止手段により内部電圧検出手段の動作を停止させることにより、バツテリセル群の残存余命をばらつきを低減させてほぼ一定の期間にすることができ、かくしてバツテリセルの性能を安定し得るバツテリパツク及びその制御方法を実現できる。

Claim (excerpt)：

複数のバツテリセルからなるバツテリセル群が収納され、電子機器に装填されることにより当該電子機器に電流を供給するバツテリパツクにおいて、各上記バツテリセル毎のそれぞれ内部電圧値を検出する内部電圧検出手段と、上記内部電圧検出手段が各上記バツテリセル毎のそれぞれ上記内部電圧値の検出を停止した待機状態にある低消費電力モード時に、上記バツテリセル群の端子電圧値又は各上記バツテリセル毎のそれぞれ端子電圧値を測定し、各上記バツテリセル群の上記端子電圧値が所定の第1の端子電圧値まで低下したとき、又は少なくとも1つの上記バツテリセルの上記端子電圧値が所定の第2の端子電圧値まで低下したときに上記内部電圧検出手段を起動させる起動手段と、少なくとも1つの上記バツテリセルの上記内部電圧値が所定の第1の内部電圧値まで低下したときに上記内部電圧検出手段から得られる制御信号に基づいて上記内部電圧検出手段の動作を停止させる停止手段とを具えることを特徴とするバツテリパツク。

IPC (2)：

H01M 10/44 ,  H02J 7/00 302

FI (2)：

H01M 10/44 P ,  H02J 7/00 302 D