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J-GLOBAL ID：200903008392440859

構造方程式モデリングにおける因果モデル分析装置及び因果モデル分析方法

Inventor： 小島 隆矢 ,  若林 直子 ,  讃井 純一郎 ,  山川 義介 ,  廣野 元久 ,  南部 正典
Applicant, Patent owner： 独立行政法人建築研究所 ,  若林 直子 ,  讃井 純一郎 ,  株式会社インタースコープ ,  株式会社リコー
Agent (1)： 稲葉 滋
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005020899
Publication number (International publication number)：2006209484
Application date： Jan. 28, 2005
Publication date： Aug. 10, 2006
Summary：

【課題】ある評価対象について意思決定をする際に、当該評価対象に対する不満や魅力がどのように影響を与えるかを把握することができる分析モデルを提供する。【解決手段】評価対象に対する数値化された評価データを用いた構造方程式モデリングにおける因果モデル分析装置である。因果モデル分析の変数には、複数の個別項目、ネガティブ面総合評価、ポジティブ面総合評価、総合評価が含まれ、数値化された評価データには、複数の個別項目に対する評価データ、ネガティブ面総合評価データ、ポジティブ面総合評価データ、総合評価データが含まれる。因果モデル分析装置は、個別項目からネガティブ面総合評価,ポジティブ面総合評価へ、ネガティブ面総合評価,ポジティブ面総合評価から総合評価へ片側矢線を設定するパス設定手段と、前記数値化された評価データを用いて、前記パス設定手段で設定された片側矢線のパス係数を推定するパス係数推定手段とを有する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

評価対象に対する数値化された評価データを用いた構造方程式モデリングにおける因果モデル分析装置であって、因果モデル分析の変数には、複数の個別項目、ネガティブ面総合評価、ポジティブ面総合評価、一つ又は複数の総合評価が含まれ、数値化された評価データには、複数の個別項目に対する評価データ、ネガティブ面総合評価データ、ポジティブ面総合評価データ、一つ又は複数の総合評価データが含まれ、 該因果モデル分析装置は、 個別項目の全部又は一部からネガティブ面総合評価および/あるいはポジティブ面総合評価へ、ネガティブ面総合評価および/あるいはポジティブ面総合評価から一つ又は複数の総合評価の全部又は一部へ片側矢線を設定するパス設定手段と、 前記数値化された評価データを用いて、前記パス設定手段で設定された片側矢線のパス係数を推定するパス係数推定手段と、 を有することを特徴とする因果モデル分析装置。

IPC (1)：

G06Q 10/00

FI (1)：

G06F17/60 170A