Pat

J-GLOBAL ID：200903008451116734

画像検査装置

Inventor： 岩田 康孝 ,  奥村 一正 ,  佐野 和久
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 石原 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991157271
Publication number (International publication number)：1993006422
Application date： Jun. 28, 1991
Publication date： Jan. 14, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 ラインセンサを使用して、画像処理、検査処理と並行して、連続して画像データを取込むことによって、検査時間が短く、検査対象物の大きさと形状に無関係に小容量のメモリで処理ができる画像検査装置を提供する。【構成】 検査対象物と相対移動しながら、この対象物の画像データを取込むラインセンサ1と、検査対象物の相対移動距離を測定する距離測定手段6と、これから得られた検査対象物の相対移動距離を基に、ラインセンサ1からの画像データ取込みの開始・終了を行う取込み記憶手段13と、取込まれた画像データから、検査対象物の検査対象エリアの画像データを切出して記憶する切出し記憶手段14と、切出された画像データを処理して画像処理データとする画像処理手段15と、このデータによって、各種検査項目についての検査を行う複数の検査処理手段16とを備え、画像データを取込みながら、各種検査項目を並列して検査する。

Claim (excerpt)：

検査対象物と相対移動しながら、この検査対象物の画像データを取込むラインセンサと、前記検査対象物の相対移動距離を測定する距離測定手段と、前記距離測定手段から得られた前記検査対象物の相対移動距離を基に、ラインセンサからの画像データ取込みの開始・終了を行う構成を備えた取込み記憶手段と、前記の取込まれた画像データから、前記検査対象物の検査対象エリアの画像データを切出して記憶できる構成を備えた切出し記憶手段と、前記の切出された画像データを画像処理して画像処理データとする画像処理手段と、前記の画像処理データによって、各種検査項目についての検査を行う複数の検査処理手段とを備え、画像データを取込みながら、各種検査項目を並列して検査できることを特徴とする画像検査装置。

IPC (5)：

G06F 15/62 405 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  H05K 3/34 ,  H05K 13/08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭64-076284
  
• 特公昭52-014112