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J-GLOBAL ID：200903008458896670

減衰振動による張力測定方法

Inventor： 堀場 浩行 ,  森 圭三
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 船橋 國則
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993287371
Publication number (International publication number)：1995120333
Application date： Oct. 22, 1993
Publication date： May. 12, 1995
Summary：

【要約】【目的】 グリット素体を共振させ続けずに、共振周波数を測定可能とすることで、細いグリッド素体の張力を測定可能とするとともに、測定誤差が生じないようにし、測定能力及び測定精度を向上させる。【構成】 外力を加えることで被測定物を振動させ、この外力を停止させた後における共振・減衰振動過程での被測定物の変位量の変化を検出する。この変位量の変化から共振周波数を求め、この共振周波数を被測定物の張力として得る。また、共振周波数は、共振・減衰振動の周期を測定し、この周期を変換することで求めることが好ましい。

Claim (excerpt)：

外力を加えることで被測定物を振動させ、該外力を停止させた後における共振・減衰振動過程での前記被測定物の変位量の変化を検出し、該変位量の変化から共振周波数を求め、該共振周波数を前記被測定物の張力として得ることを特徴とする減衰振動による張力測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-136729
  
• 特開昭54-134685
  
• 特開平4-136729
  
• 特開昭54-134685