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J-GLOBAL ID：200903008499949002

二次電池の劣化判定方法および装置

Inventor： 飯島 哲生 ,  佐藤 靖夫 ,  中打木 弘司 ,  平井 敏郎
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998207844
Publication number (International publication number)：2000039471
Application date： Jul. 23, 1998
Publication date： Feb. 08, 2000
Summary：

【要約】【課題】本発明の課題は、被評価二次電池がどんな状態であっても劣化情報が得られる簡単で比較的精度がよく、ユーザや店頭でのチェックが可能な二次電池の劣化判定方法および装置を提供することにある。【解決手段】本発明は、二次電池の劣化を判定する方法において、二次電池の充電および/または放電開始直後の過渡現象時間内に持続時間の異なるそれぞれ第1および第2の2つのパルスを与え、それら第1と第2のパルスに対する検出電圧のピークホールド電圧を演算して電池の劣化を判定することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

二次電池の劣化を判定する方法において、二次電池の充電および/または放電開始直後の過渡現象時間内に持続時間の異なるそれぞれ第1および第2の2つのパルスを与え、それら第1と第2のパルスに対する検出電圧のピークホールド電圧を演算して電池の劣化を判定することを特徴とする二次電池の劣化判定方法。

IPC (3)：

G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00

FI (3)：

G01R 31/36 E ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 Q

F-Term (23)：

2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CB21 ,  2G016CB25 ,  2G016CB31 ,  2G016CC01 ,  2G016CC04 ,  2G016CC09 ,  2G016CC15 ,  2G016CC19 ,  2G016CD02 ,  5G003BA01 ,  5G003CA02 ,  5G003CA18 ,  5G003CB07 ,  5G003CC07 ,  5G003EA08 ,  5H030AA06 ,  5H030AA10 ,  5H030AS20 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44 ,  5H030FF52

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 特開昭61-124876