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J-GLOBAL ID：200903008501030739

磁束計

Inventor： 田村 泰孝
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 松本 眞吉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992245102
Publication number (International publication number)：1994094816
Application date： Sep. 14, 1992
Publication date： Apr. 08, 1994
Summary：

【要約】【目的】構成が簡単で製作が容易な高感度の磁束計を得る。【構成】プローブ部10は、ボビン11の外周面に超伝導コイル12が巻かれた構成となっており、被測定部に配置され、磁界増幅・検出部20は、ボビン21の外周面に超伝導コイル22が巻かれ、ボビン21内に磁界センサ23が配置された構成となっており、プローブ部10との磁気結合が無視できる位置に配置される。超伝導コイル12と超伝導コイル22とは、超伝導ツイスト線30及び31で接続されてループが形成されている。超伝導コイル22内の磁界は超伝導コイル12内の磁界の例えば500倍に増幅される。磁束検出回路24は、磁界センサ23を動作状態にし、かつ、磁界センサ23の出力に基づいてプローブ部10を通る磁束φ1に比例した値φを求め、これを出力する。

Claim (excerpt)：

被測定部に配置され、超伝導状態にされる第1コイル(12)と、該第1コイルとの磁気結合が無視できる位置に配置され、超伝導状態にされ、該第1コイルに接続されて該第1コイルとループを形成し、該第1コイル内の磁界強度よりも大きい強度の磁界を内部に生成する第2コイル(22)と、該第2コイル内に配置され磁界強度を検出する磁界センサ(23)と、該磁界センサを動作させ、該磁界センサの出力に基づいて該第1コイル内の磁束に比例した値を求める磁束検出手段(24)と、を有することを特徴とする磁束計。

IPC (2)：

G01R 33/035 ZAA ,  H01L 39/04 ZAA