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J-GLOBAL ID:200903008553241193

距離測定のための方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山川 政樹
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002522001
Publication number (International publication number):2004507742
Application date: Aug. 10, 2001
Publication date: Mar. 11, 2004
Summary:
記載された距離測定方法は、目視される測定対象物により反射または散乱された光学的測定ビームの位相測定に基づくものである。ここで測定対象物には、測定機器から放射され、強度変調された光学的測定ビームが照射され、測定対象物により反射または散乱された測定ビームが、測定機器に配置された受信器により検知され、電気測定信号に変換される。電気測定信号は次に基準信号と比較され、検出された位相差から測定機器と測定対象物との間の距離が求められる。この基準信号は、既知の基準区間を通って導かれた測定光成分の検知と変換により発生される。検出された測定ビームはバースト変調され、受信器の測定信号はアクティブなバースト持続時間の間だけ評価される。この方法を実施するための装置も記載されている。
Claim (excerpt):
目視される測定対象物により反射または散乱された光学的測定ビームの位相測定に基づく距離測定方法であって、 測定対象物を、測定機器から放射され、強度変調された光学的測定ビームにより照射し、 測定対象物により反射または散乱された測定ビームを、測定機器に配置された受信器により検知し、電気測定信号に変換し、 該電気測定信号を、既知の基準区間を通って導かれた測定光成分の検知および変換により発生される基準信号と比較し、 検出された位相差から測定機器と測定対象物との間の距離を検出する形式の方法において、 検出される測定ビームをバースト変調し、 受信器の測定信号を、アクティブなバースト持続時間に依存する時間の間だけ評価する、 ことを特徴とする距離測定方法。
IPC (2):
G01S17/36 ,  G01S7/48
FI (2):
G01S17/36 ,  G01S7/48 Z
F-Term (17):
5J084AA05 ,  5J084AB16 ,  5J084AC08 ,  5J084AD02 ,  5J084BA04 ,  5J084BA36 ,  5J084BB14 ,  5J084BB21 ,  5J084CA05 ,  5J084CA28 ,  5J084CA42 ,  5J084CA49 ,  5J084CA69 ,  5J084DA01 ,  5J084DA08 ,  5J084DA09 ,  5J084EA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 特開平2-013878
  • 距離測定器械の校正のための装置
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願平10-518944   Applicant:ライカゲオジステームスアクチエンゲゼルシャフト
  • 距離測定方法および装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-188558   Applicant:株式会社豊田中央研究所
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