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J-GLOBAL ID:200903008582363974

地図表示機能を有する電子機器及び地図データの更新システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 足立 勉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999282809
Publication number (International publication number):2001109372
Application date: Oct. 04, 1999
Publication date: Apr. 20, 2001
Summary:
【要約】【課題】 電子機器が、自己の保有している地図データ中の図形データを、外部からの更新用情報に基づき確実に更新できるようにする。【解決手段】 電子機器は、外部からの更新用情報中の更新対象特定用図形データと同じ内容の可能性がある図形データを、自己保有の地図データ中から更新対象候補として選択し(S230)、その選択した図形データと上記更新対象特定用図形データとを、夫々ビットマップイメージデータに変換して画像認識による形状比較を行うことにより、両図形データが同じ内容を表しているか否かを判定する(S240〜S270)。そして、同じ内容であれば、上記選択した図形データを、上記更新対象特定用図形データに付加されている更新内容情報に従い更新する(S290)。よって、更新対象特定用図形データが電子機器側の図形データと完全に一致していなくても、更新対象を的確に探し出して更新できる。
Claim (excerpt):
少なくとも図形の形状点座標列データからなる複数の図形データを含む地図データを記憶した記憶手段を備えると共に、該記憶手段に記憶されている地図データに基づき表示装置に地図を表示させる地図表示機能を有し、更に、前記記憶手段に記憶されている地図データを更新するための情報であって、前記地図データ中の更新対象の図形データを特定するための少なくとも図形の形状点座標列データからなる更新対象特定用図形データと、前記更新対象の図形データをどの様な状態に更新するのかを示す更新内容情報とが対応付けて含まれている更新用情報が、外部から供給されると、該更新用情報中の更新対象特定用図形データと同じ内容の図形データを前記記憶手段内の地図データから特定して、該特定した図形データを前記更新内容情報に従い更新する電子機器において、前記記憶手段内の地図データに含まれている各図形データの中から、前記更新対象特定用図形データと同じ内容を表している可能性がある図形データを、更新対象候補の図形データとして選択する候補選択手段と、前記更新対象特定用図形データを形成している形状点座標列データと、前記候補選択手段により選択された更新対象候補の図形データを形成している形状点座標列データとを、夫々、図形の形状を表すビットマップイメージデータに変換し、その両ビットマップイメージデータを用いて図形の形状比較を行うことにより、前記更新対象候補の図形データが前記更新対象特定用図形データと同じ内容を表しているか否かを判定する判定手段と、該判定手段によって前記更新対象候補の図形データが前記更新対象特定用図形データと同じ内容を表していると判定されると、その更新対象候補の図形データを、前記判定の対象とされた更新対象特定用図形データに対応した前記更新内容情報に従い更新する図形データ更新手段と、を備えていることを特徴とする地図表示機能を有する電子機器。
IPC (5):
G09B 29/00 ,  G01C 21/00 ,  G06F 17/30 ,  G06T 1/00 ,  G08G 1/0969
FI (6):
G09B 29/00 A ,  G01C 21/00 A ,  G08G 1/0969 ,  G06F 15/40 370 C ,  G06F 15/401 340 A ,  G06F 15/62 335
F-Term (22):
2C032HB05 ,  2C032HB11 ,  2C032HB21 ,  2F029AA02 ,  2F029AC14 ,  5B050BA17 ,  5B050EA18 ,  5B075KK24 ,  5B075KK33 ,  5B075ND07 ,  5B075NR02 ,  5B075PQ02 ,  5B075UU13 ,  5H180AA01 ,  5H180BB12 ,  5H180BB13 ,  5H180FF22 ,  5H180FF32 ,  9A001HH23 ,  9A001HH28 ,  9A001JJ77 ,  9A001KK60
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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