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J-GLOBAL ID:200903008633110340
感光性組成物及びそれを用いたパターン形成方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
小栗 昌平
, 本多 弘徳
, 市川 利光
, 高松 猛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005095325
Publication number (International publication number):2006276444
Application date: Mar. 29, 2005
Publication date: Oct. 12, 2006
Summary:
【課題】 90nm以下の微細パターンの形成においても、ラインエッジラフネス、現像欠陥、SEM耐性が改良された感光性組成物及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。【解決手段】(A)特定のラクトン構造を有する繰り返し単位から選択される少なくとも1種の繰り返し単位を有し、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂、(B)他の特定のラクトン構造を有する繰り返し単位から選択される少なくとも1種の繰り返し単位を有し、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂、及び、(C)活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物を含有することを特徴とする感光性組成物及びそれを用いたパターン形成方法。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
(A)式(I)〜(III)のいずれかで表されるラクトン構造を有する繰り返し単位から選択される少なくとも1種の繰り返し単位を有し、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂、
(B)式(a-1)〜(a-9)ののいずれかで表されるラクトン構造を有する繰り返し単位から選択される少なくとも1種の繰り返し単位を有し、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂、及び、
(C)活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物
を含有することを特徴とする感光性組成物。
IPC (2):
FI (2):
G03F7/039 601
, H01L21/30 502R
F-Term (11):
2H025AA03
, 2H025AA04
, 2H025AB16
, 2H025AB17
, 2H025AC04
, 2H025AC06
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BG00
, 2H025FA12
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (13)
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レジスト材料及びレジストパターンの形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-050264
Applicant:富士通株式会社
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高分子化合物、レジスト材料、及びパターン形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-165085
Applicant:信越化学工業株式会社
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感放射線性樹脂組成物
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-072984
Applicant:JSR株式会社
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