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J-GLOBAL ID：200903008670768046

TFT-LCDの検査方法及びその装置

Inventor： 高橋 勇 ,  押見 正
Applicant, Patent owner： 株式会社テレニクス
Agent (1)： 赤尾 直人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993133796
Publication number (International publication number)：1994059283
Application date： Apr. 26, 1993
Publication date： Mar. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】 TFT-LCDにおける個々のTFTの接続関係、ゲート線、データ線自体の接続状態、ゲート線間、データ線間のショートの有無等を、簡便且つ迅速に検査できる方法及び装置を提供することを目的とする。【構成】 TFTを使用したアクティブカラー-LCDにおいて、TFTをONとして、LCDのセルコンデンサーにデータラインを通じて充電を行い、次に、TFTをOFFの状態として当該充電状態を保持した後、再度TFTをONとして、TFTのソース及びドレインを通じて、アース側に接続している抵抗を通して放電を行い、且つ放電における電流波形又は電圧波形によって、TFT-LCDの機能、配線の接続状態が正常であるか否かを判断するTFT-LCDの検査方法及びこれを実現する装置

Claim (excerpt)：

TFTを使用したアクティブカラー-LCDにおいて、TFTをONとして、LCDのセルコンデンサーにデータラインを通じて充電を行い、次にTFTをOFFの状態として当該充電状態を保持した後、再度TFTをONとして、TFTのソース及びドレインを通じて、アース側に接続している抵抗を通して放電を行い、且つ放電における電流波形又は電圧波形によって、TFT-LCDの機能、配線の接続状態が正常であるか否かを判断するTFT-LCDの検査方法

IPC (5)：

G02F 1/136 500 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/13 101 ,  H01L 29/784

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平3-200121
  
• 特開平2-282288
  
• 特開平1-144093
  
• 特開平2-003299