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J-GLOBAL ID:200903008677829474
パルスベースのインピーダンス測定器および複素インピーダンスを測定するためのパルスベースの方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
深見 久郎 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996264320
Publication number (International publication number):1997178786
Application date: Oct. 04, 1996
Publication date: Jul. 11, 1997
Summary:
【要約】【課題】 パルスベースのインピーダンス測定器を提供する。【解決手段】 パルス発生器(52)は被テストデバイス(DUT)(50)に刺激パルスを反復的に発生する。サンプルホールド回路と、アナログデジタル変換器と、捕捉メモリ(58)とからなるデジタイザ回路はパルス応答測定の間時間の関数として電圧の時間記録を生み出すよう、DUT(50)にかかる応答電圧をサンプリングする。各時間記録は高速フーリエー変換(FFT)によって動作され、これは技術において周知の態様で、時間情報に対する電圧を周波数情報に対する電圧に変換する。1組の複素較正定数を発生するよう、既知の抵抗値で1組の較正抵抗器を測定することによって、インピーダンス測定器は複素インピーダンスおよびDUT(50)の周波数に対する反射損失の測定を提供する。
Claim (excerpt):
パルスベースのインピーダンス測定器であって、被テストデバイスに結合するための測定器用コネクタと、前記測定器用コネクタに結合され、前記被テストデバイスに刺激パルスを発生するためのパルス発生器と、前記測定器用コネクタに結合され、前記被テストデバイスからの応答信号を受信しかつサンプリングしてデジタル測定値を提供するためのデジタルサンプリング回路と、前記サンプリング回路に結合され、前記デジタル測定値を受信しかつ記憶して前記応答信号の時間記録を形成するための捕捉メモリと、前記時間記録を受信するよう前記捕捉メモリに結合されたマイクロプロセッサとを含み、前記マイクロプロセッサは、周波数領域表現を得るよう前記時間記録に高速フーリエ変換を行ない、前記周波数領域表現および1組の較正抵抗器の測定値から引出された1組の較正定数を用いて、前記被テストデバイスの1組の複素インピーダンス値を計算し、さらに前記組の複素インピーダンス値を視覚的に表示するよう前記マイクロプロセッサに結合された表示装置を含む、パルスベースのインピーダンス測定器。
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