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J-GLOBAL ID：200903008681149453
偏光子の消光比測定方法及び測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
亀井 弘勝 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993011896
Publication number (International publication number)：1994221993
Application date： Jan. 27, 1993
Publication date： Aug. 12, 1994
Summary：
【要約】【目的】被測定偏光子1に光を照射し、検光子を光軸上で回転させて透過光量の強度比を求める通常の方法では、被測定偏光子1の前又は後に、シングルモード光ファイバなどの光学媒質2,3が固着されているとき、入射光は直線偏光であっても、光ファイバの出射光は直交成分間の光結合が生じて一般に楕円偏光になり、正しい被測定偏光子1の消光比が測定できなくなる。【構成】被測定偏光子1が含まれる光学媒質2に入射する光の偏光をほぼあらゆる偏光状態をとるように変化させながら、光学媒質3を透過した光強度を測定し、光強度の最大値と最小値との比によって被測定偏光子1の消光比を求める。
Claim (excerpt)：
被測定偏光子が含まれる光学媒質に入射する光の偏光をほぼあらゆる偏光状態をとるように変化させながら、前記光学媒質を透過した光強度を測定し、光強度の最大値と最小値との比によって被測定偏光子の消光比を求めることを特徴とする偏光子の消光比測定方法。
IPC (2)：
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