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J-GLOBAL ID：200903008692844587

3次元計測装置

Inventor： 糊田 寿夫 ,  内野 浩志 ,  上古 琢人 ,  井手 英一
Applicant, Patent owner： ミノルタ株式会社
Agent (1)： 久保 幸雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996142830
Publication number (International publication number)：1997325010
Application date： Jun. 05, 1996
Publication date： Dec. 16, 1997
Summary：

【要約】【課題】受光条件の設定の精度を確保しつつ、周期的に計測を行う場合の周期を短縮する。【解決手段】検出光を照射して物体を光学的に走査するための投光手段と、前記物体で反射した前記検出光を受光する撮像手段とを有し、光投影法によって物体形状を計測する3次元計測装置に、周期的に計測する連続計測モードにおいて、2回目以降の計測の受光条件をその1回前の計測時に前記撮像手段によって得られた撮像情報に基づいて設定する制御手段を設ける。

Claim (excerpt)：

検出光を照射して物体を光学的に走査するための投光手段と、前記物体で反射した前記検出光を受光する撮像手段とを有し、光投影法によって物体形状を計測する3次元計測装置であって、周期的に計測する連続計測モードが設けられ、連続計測モードにおいて、2回目以降の計測の受光条件を、その1回前の計測時に前記撮像手段によって得られた撮像情報に基づいて設定する制御手段を有していることを特徴とする3次元計測装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭64-021581
  
• 3次元形状入力装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-132998   Applicant：ミノルタ株式会社
• 3次元形状測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-320245   Applicant：ミノルタ株式会社