Pat
J-GLOBAL ID:200903008698476105

抗原抗体反応の測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 曉司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994178358
Publication number (International publication number):1996043391
Application date: Jul. 29, 1994
Publication date: Feb. 16, 1996
Summary:
【要約】【構成】 不溶性磁性粒子および不溶性標識粒子を用いる抗原抗体反応の測定方法において、不溶性磁性粒子と反応した不溶性標識粒子に抗原抗体反応による特異的結合を解離させる解離液を加えて該不溶性標識粒子を解離させ、解離した該不溶性標識粒子の標識強度を測定する方法。【効果】 本発明方法によれば、磁性粒子および標識粒子を用いることにより、迅速、簡便にB/F分離が実施でき、かつ、通常のFIAよりも測定感度を上昇させて抗原、抗体反応を測定することができるだけでなく、抗原抗体反応の特異的結合を解離させて遊離した標識粒子のみを計測するため、磁性粒子の影響を受けることなく、より正確な標識強度の計測が可能である。
Claim (excerpt):
不溶性磁性粒子および不溶性標識粒子を用いる抗原抗体反応の測定方法において、不溶性磁性粒子と反応した不溶性標識粒子に抗原抗体反応による特異的結合を解離させる解離液を加えて該不溶性標識粒子を解離させ、解離した該不溶性標識粒子の標識強度を測定する方法。
IPC (3):
G01N 33/543 501 ,  G01N 33/543 541 ,  G01N 33/543 555
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平4-301764
  • 特開平4-301764

Return to Previous Page