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J-GLOBAL ID：200903008723606540

測光装置

Inventor： 寺内 公一
Applicant, Patent owner： ミノルタ株式会社
Agent (1)： 小谷 悦司 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000195003
Publication number (International publication number)：2002013981
Application date： Jun. 28, 2000
Publication date： Jan. 18, 2002
Summary：

【要約】【課題】 小型化や価格の低減が可能であるとともに、種々の測定条件での測定が容易に行える。【解決手段】 RAM32は受光信号などを一時的に記憶し、ROM33はCPU35の制御プログラムを記憶するもので、この制御プログラムとして、等色関数に近似するための重み付け係数を記憶している。CPU35は、A/D変換器31から送られる受光信号をRAM33に保存し、RAM33に保存されている受光信号およびROM34に格納されている重み付け係数を用いて、等色関数に基づく三刺激値を算出する。

Claim (excerpt)：

測定光を波長ごとに分散する分光手段と、分散された上記測定光を受光してn(nは2以上の整数)個の波長に対応する受光信号をそれぞれ出力する少なくともn個の光電変換手段と、上記各光電変換手段から出力される受光信号に対応して所定の分光感度を得るべく予め設定されたn個の重み付け係数が格納された記憶手段と、上記各受光信号および上記各重み付け係数を用いて、所定の分光感度に基づく上記測定光の特性を求める演算手段とを備えたことを特徴とする測光装置。

IPC (3)：

G01J 3/50 ,  G01J 3/18 ,  G01J 3/36

FI (3)：

G01J 3/50 ,  G01J 3/18 ,  G01J 3/36

F-Term (5)：

2G020AA04 ,  2G020AA08 ,  2G020DA12 ,  2G020DA22 ,  2G020DA31