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J-GLOBAL ID：200903008770828780

超音波探傷方法および装置

Inventor： 大久保 寛之
Applicant, Patent owner： 住友金属工業株式会社
Agent (1)： 久門 知 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999169488
Publication number (International publication number)：2001004602
Application date： Jun. 16, 1999
Publication date： Jan. 12, 2001
Summary：

【要約】【課題】 超音波探傷により微小欠陥を検出し欠陥の種類を判別するに際し、位相情報により欠陥種類を判別するのではなく、従来より欠陥検出で行われてきた信号の振幅情報を用い、その振幅情報により非金属介在物と気泡とを精度良くかつ容易に弁別できるようにする。【解決手段】高周波(10MHz以上)の集束型超音波探触子を用いて被検査材内の微小欠陥を検出し、欠陥の種類を判別するに際し、集束型探触子にアレイ探触子1を用い、遅延回路およびパルサーレシーバ2・CPU4で各振動子を選択的に動作させることで大きな振動子径と小さな振動子径の2種類の探触子1-1,1-2を得、大径の探触子1-1と小径の探触子1-2の両方で検出した欠陥を気泡とし、大径の探触子1-1で検出でき、小径の探触子1-2で検出できなかった欠陥をアルミナ等と判定し、振幅情報のみで精度良く弁別する。

Claim (excerpt)：

高周波の集束型超音波探触子を用いて探傷することにより被検査材内部に存在する欠陥を検出すると共に、その欠陥の種類を判別する超音波探傷方法において、大きな振動子径と小さな振動子径の2種類の探触子で探傷を行い、大きな振動子径の探触子と小さな振動子径の探触子の両方で検出した欠陥を気泡とし、大きな振動子径の探触子で検出でき、小さな振動子径の探触子で検出できなかった欠陥を介在物とすることを特徴とする超音波探傷方法。

F-Term (18)：

2G047AA00 ,  2G047AA03 ,  2G047AA06 ,  2G047AA07 ,  2G047BC07 ,  2G047BC10 ,  2G047EA10 ,  2G047EA14 ,  2G047GA13 ,  2G047GB02 ,  2G047GB11 ,  2G047GB14 ,  2G047GF08 ,  2G047GF15 ,  2G047GF18 ,  2G047GG16 ,  2G047GG19 ,  2G047GG33