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J-GLOBAL ID：200903008793819044
非干渉性多色X線源を用いた定量的位相コントラスト画像法及び断層撮影法のための干渉計
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
江崎 光史
, 奥村 義道
, 鍛冶澤 實
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2008515098
Publication number (International publication number)：2008545981
Application date： May. 30, 2006
Publication date： Dec. 18, 2008
Summary：
一つの位相格子(G1)と一つの振幅格子(G2)だけを備えたX線干渉計構成を開示する。この干渉計は、標準的なX線管を用いて位相コントラスト画像を得るために使用することができる。更に、この新形式の干渉計は、個別の副放射線源の配列から成る放射線源を使用することができる。副放射線源の各々は、個々には干渉性であるが、他の副放射線源とは互いに非干渉性である。放射線源の近くにスリットの配列、即ち、追加的な振幅格子(GO)を配置することによって、副放射線源の配列を作り出すことができる。そのような構成により、空間的又は時間的コヒーレンスを提供しない放射線源を備えた本形式の干渉計を使用することが可能となる。そのため、この構成は、より大きな放射線源を検出器から近い距離に配置した形で使用することができ、その結果フラックス密度が向上され、それにより照射時間が短縮される。このことは、多く(数百)の視野角により物体の画像を取得する必要の有る断層撮影法に関して特に重要である。
Claim (excerpt)：
定量的な位相コントラスト画像を得るためのX線用、特に、硬X線用干渉計であって、a)X線源(XS)、有利には、標準的な多色X線源と、
b)これ以降ビームスプリッターと称する、有利には、透過性ジオメトリー内におけるブラッグ結晶以外の回折光学素子(G1)と、
c)検出感度を空間的に変化させた位置検出器(D)と、
を備えた干渉計。
IPC (3)：
G01N 23/20
, G21K 1/06
, G01N 23/04
G01N23/20
, G21K1/06 D
, G21K1/06 B
, G21K1/06 C
, G21K1/06 G
, G01N23/04
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA02
, 2G001GA12
, 2G001HA13
, 2G001KA20
, 2G001SA02
