Pat
J-GLOBAL ID：200903008801484294
電子機器、並びにその電子機器の測定方法
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997087812
Publication number (International publication number)：1998282172
Application date： Apr. 07, 1997
Publication date： Oct. 23, 1998
Summary：
【要約】【課題】 従来の電子機器は、カバー33には、回路パターン35に対向する孔33bだけが設けられるものであるため、測定時に、電子機器を移動、調整せねば成らず、その作業が面倒で、測定作業に手間がかかるという問題がある。【解決手段】 本発明の電子機器は、プリント基板5とカバー3、4に、筺体1の上下方向で、筺体1を貫通する孔5c,3c,4cを設けたため、この孔5c,3c,4cを測定時の位置決め用として利用できて、測定作業を容易にし、作業の短縮化を図ることが出来る。
Claim (excerpt)：
上下両側に開放部を有する四角枠状の枠体と、該枠体の開放部を覆うカバーとで形成された箱形の筺体と、前記筺体内に配置され、回路パターンを有するプリント基板とを備え、該プリント基板の回路パターンに対向する位置において、前記カバーに孔を設けると共に、前記筺体の上下方向において直線状で、前記筺体を貫通する孔を、前記プリント基板と前記カバーとに設けたことを特徴とする電子機器。
IPC (2)：
FI (2)：
G01R 31/00
, H04N 17/04 E
