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J-GLOBAL ID:200903008894477870

有限要素解析方法及び有限要素解析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 河野 登夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995164131
Publication number (International publication number):1997016559
Application date: Jun. 29, 1995
Publication date: Jan. 17, 1997
Summary:
【要約】【目的】 与えられる形状データの種類によらずに形状モデルが生成され、形状データの入力から解析結果の出力までの過程を一括処理できるようにし、また解析の実行中にメッシュ中の要素のつぶれが過大となったとき、人手に頼ることなくメッシュの再分割が行われて、高精度の解析結果が得られるようにする。【構成】 CADデータファイル10、測定データファイル11、メッシュデータファイル12から夫々の形式を有して与えられる形状データを、形状データファイル3に一旦格納し、演算処理部1に読み込み、座標値の属性を有する点群データに変換して点群データファイル2に格納する。この点群データを演算処理部1に読み込み、各点を自由曲面又は自由曲線により近似して形状モデルを生成して、生成された形状モデルをメッシュ分割し、得られたメッシュを用いて有限要素解析を実行する。
Claim (excerpt):
与えられた形状データに基づいて解析対象物の形状モデルを生成し、次に生成された形状モデルをメッシュ分割して得られるメッシュ中の各要素の変形を伴う前記解析対象物の状態変化を解析する有限要素解析において、前記形状データを座標値として表される点群データに変換し、この点群データを自由曲面又は自由曲線により近似して前記形状モデルを生成することを特徴とする有限要素解析方法。

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