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J-GLOBAL ID：200903008898012103
伸び計
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西田 新
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994291115
Publication number (International publication number)：1996145634
Application date： Nov. 25, 1994
Publication date： Jun. 07, 1996
Summary：
【要約】【目的】 試験の進行に伴って試験片の状態変化があっても、確実にスペックルパターンを捕らえて伸びを計測することのできる伸び計を提供する。【構成】 レーザ光源1からのレーザ光を試験片Wに照射して得られる反射光を複数チャンネルのイメージセンサ2で受光し、そのイメージセンサ2で検出された刻々のスペックルパターンの移動量から試験片Wの伸びを算出するデータ処理部3を備えた伸び計において、試験開始前のイメージセンサ2の出力を用いて、スペックルパターンのコントラストが所定値以上となるようにレーザ光源1の出力を制御し、かつ、試験中のイメージセンサ2の出力を刻々と取り込み、スペックルパターンのコントラストが所定範囲内を維持するよう、レーザ光源1の出力を制御するレーザ光強度調整手段(データ処理部3,電流制御部5)を設ける。
Claim (excerpt)：
試験片の表面にレーザ光を照射するレーザ光源と、そのレーザ光の試験片による反射光を受光する複数チャンネルのイメージセンサと、そのイメージセンサからの刻々の出力を用いてスペックルパターンの移動量を算出する演算部を備え、そのスペックルパターンの移動量から試験片の伸びを得る伸び計において、試験開始前の試験片からの反射光を受光している状態での上記イメージセンサの出力を用いて、スペックルパターンのコントラストが所定値以上となるように上記レーザ光源の出力を制御し、かつ、試験中における上記イメージセンサの出力を刻々と取り込み、スペックルパターンのコントラストが所定範囲内を維持するよう、上記レーザ光源の出力を制御するレーザ光強度調整手段を備えていることを特徴とする伸び計。
IPC (2)：
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