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J-GLOBAL ID：200903008944224242

セレンの化学形態別定量法

Inventor：
神田 裕

About 神田 裕

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秋保 広幸

About 秋保 広幸

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白井 裕三

About 白井 裕三

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伊藤 茂男

About 伊藤 茂男


Applicant, Patent owner：
財団法人電力中央研究所

About 財団法人電力中央研究所


Agent (2)： 栗原 浩之 ,  村中 克年
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005158624
Publication number (International publication number)：2006337036
Application date： May. 31, 2005
Publication date： Dec. 14, 2006
Summary：
【課題】セレンSe(IV)、Se(VI)、Se(0)の化学形態別定量法の提供。【解決手段】第1工程:試料を溶かした溶液である試料1を、そのまま処理して含有セレンをセレン化水素に変化させた後、誘導結合プラズマ発光分光分析によりSe(IV)量を測定して(以下、水素化ICP発光法)、Se(IV)濃度を求める。第2工程:試料1を別途、有機物分解処理及び還元処理して、水素化ICP発光法により全セレン濃度を求める。第3工程:試料1を別途、Se(0)をSe(IV)に酸化するがSe(IV)をSe(VI)に酸化しない条件下で酸分解処理を行い、水素化ICP発光法によりSe(0)及びSe(IV)の総濃度を求める。第2工程で求めた全セレン濃度と第3工程で求めたSe(0)及びSe(IV)総濃度との差からSe(VI)濃度を求め、第1工程で求めたSe(IV)濃度と第3工程で求めたSe(0)及びSe(IV)の総濃度との差からSe(0)濃度を求める。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
Se(0)、Se(IV)及びSe(VI)のそれぞれの定量を行うセレンの化学形態別定量法であって、定量対象となる試料を溶かした溶液を、そのまま処理して含有セレンをセレン化水素に変化させた後、誘導結合プラズマ発光分光分析を行うことによりSe(IV)量を測定してSe(IV)濃度を求める第1の工程と、前記溶液について別途、有機物分解処理及び還元処理を順次行い、次いで含有セレンをセレン化水素に変化させた後、誘導結合プラズマ発光分光分析を行うことによりSe(IV)量を測定して全セレン濃度を求める第2の工程と、前記溶液について別途、Se(0)をSe(IV)に酸化するがSe(IV)をSe(VI)に酸化しない条件下で酸分解処理し、次いで含有セレンをセレン化水素に変化させた後、誘導結合プラズマ発光分光分析を行うことによりSe(IV)量を測定してSe(0)及びSe(IV)の総濃度を求める第3の工程と、前記第2の工程で求めた全セレン濃度と前記第3の工程で求めたSe(0)及びSe(IV)の総濃度との差からSe(VI)濃度を求める第4の工程と、前記第1の工程で求めたSe(IV)濃度と前記第3の工程で求めたSe(0)及びSe(IV)の総濃度との差からSe(0)濃度を求める第5の工程とを具備することを特徴とするセレンの化学形態別定量法。
IPC (2)：
G01N 31/00 ,  G01N 21/73
FI (3)：
G01N31/00 T ,  G01N31/00 Y ,  G01N21/73
F-Term (10)：
2G042AA01 ,  2G042BA20 ,  2G042DA03 ,  2G042FA01 ,  2G042HA07 ,  2G043AA01 ,  2G043BA07 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043EA08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent：
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