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J-GLOBAL ID：200903008996298112

偏波モード分散の測定方法およびその装置

Inventor：
麻生 修

About 麻生 修

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大島 勇

About 大島 勇

, 
大越 春喜

About 大越 春喜


Applicant, Patent owner：
古河電気工業株式会社

About 古河電気工業株式会社


Agent (1)： 五十嵐 清
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995350485
Publication number (International publication number)：1997072827
Application date： Dec. 22, 1995
Publication date： Mar. 18, 1997
Summary：
【要約】【課題】 光伝送媒質1の偏波モード分散の測定を規格化ストークスベクトルを成分とするジョーンズベクトルを実測して行う。【解決手段】 入射手段2から偏光状態の異なる3種類の入射光を光伝送媒質1に入射する。光伝送媒質1を通った各偏光状態の出射光は光強度検出器9O ,9a 〜9c でストークスベクトル量として検出する。ジョーンズ行列算出演算部12は光伝送媒質1の偏光特性を記述するジョーンズ行列をストークスベクトルを用いて算出評価する。差分近似演算部13は角周波数ωの光入射により得られるジョーンズ行列U(ω)と、角周波数ω+Δωの入射により得られるジョーンズ行列U(ω+Δω)を差分近似する。偏波分散ベクトル算出部14は、差分近似によって得た行列成分から偏波分散ベクトルΩを算出する。偏波モード分散算出部15は偏波分散ベクトルΩの絶対値を算出して光伝送媒質1の偏波モード分散を求める。
Claim (excerpt)：
被測定対象の光伝送媒質の入射端に3種類の異なった偏光状態の光を入射し、光伝送媒質通過後の各光の偏光状態の変化をストークスベクトルとして測定し、測定した各ストークスベクトルを規格化処理して規格化ストークスベクトルを算出し、これらの規格化ストークスベクトルを用いて前記光伝送媒質の偏光特性を記述するジョーンズ行列Uの各成分を求める一連の手続を、光伝送媒質の入射端に角周波数ωとこのωから微小周波数区間Δωだけ離れた角周波数ω+Δωの2つの角周波数の光を入射して行い、次に、角周波数ωの光に対する測定によって得られるジョーンズ行列U(ω)および角周波数ω+Δωの光の場合における測定によって得られるジョーンズ行列U(ω+Δω)を用いて差分近似を行い2行2列の行列HをH≡2i(dU/dω)U+ として算出し、この行列Hの成分から偏波分散ベクトルΩを求め、次に偏波分散ベクトルΩの絶対値を求めて偏波モード分散を評価することを特徴とする偏波モード分散の測定方法。
IPC (6)：
G01M 11/02 ,  G02B 6/00 ,  H04B 10/14 ,  H04B 10/135 ,  H04B 10/13 ,  H04B 10/12
FI (3)：
G01M 11/02 K ,  G02B 6/00 A ,  H04B 9/00 Q
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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