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J-GLOBAL ID：200903009054011248

粒子挙動解析装置及び解析方法並びに記録媒体

Inventor： 久保田 哲行 ,  山岡 伸嘉 ,  井上 博之 ,  飯野 良雄
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999328761
Publication number (International publication number)：2001141638
Application date： Nov. 18, 1999
Publication date： May. 25, 2001
Summary：

【要約】【課題】 粒径の異なる複数の粒子が混合された粒子の挙動を解析する粒子挙動解析装置及び粒子挙動解析方法並びに記録媒体に関し、2種類の粒子の挙動を解析できる粒子解析装置及び粒子解析方法並びに記録媒体を提供することを目的とする。【解決手段】 挙動解析処理は、データを入力するステップS1-1、磁場データを作成するステップS1-2、電場データを作成するステップS1-3、粒子解析法によりキャリア粒子の挙動を計算するステップS1-4、ステップS1-4で計算されたキャリア粒子との相互作用を含むトナー粒子の挙動をスフィアモデルを用いて計算するステップS1-5、データを出力するステップS1-6から構成される。

Claim (excerpt)：

粒子の挙動を解析する粒子挙動解析装置であって、第1の粒子の挙動を解析する第1の挙動解析手段と、前記第1の挙動解析手段で解析された第1の粒子の挙動に基づいて、前記第1の粒子と前記第1の粒子と径の異なる第2の粒子との相互作用を含めた該第2の粒子の挙動を解析する第2の挙動解析手段とを有することを特徴とする粒子挙動解析装置。

IPC (2)：

G01N 15/00 ,  G06F 17/12

FI (2)：

G01N 15/00 Z ,  G06F 15/324

F-Term (4)：

5B056AA04 ,  5B056BB02 ,  5B056FF05 ,  5B056HH00