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J-GLOBAL ID:200903009143454340

回路検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 下田 容一郎 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993102335
Publication number (International publication number):1994308202
Application date: Apr. 28, 1993
Publication date: Nov. 04, 1994
Summary:
【要約】【目的】 被検査回路に直接接続または接触させることなく電気信号を得て、被検査回路の動作の良否を判定できる回路検査装置を提供する。【構成】 被検査回路5の着目する部分から所定の距離dだけ離して位置させた電磁波センサ2で、作動中の被検査機器5内の被検査回路5aから放出される電磁波を検出する。解析判定手段4は、電磁波センサ2で検出した信号2aの例えば周波数,レベル等に基づいて被検査回路5aの動作の良否を判定する。
Claim (excerpt):
作動中の被検査回路から放出される電磁波を検出する電磁波センサと、この電磁波センサで検出した信号の周波数ならびにレベルに基づいて前記被検査回路の動作の良否を判定するとともに動作異常部を特定する解析判定手段とを備えたことを特徴とする回路検査装置。

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