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J-GLOBAL ID：200903009188193733
異常診断方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993332522
Publication number (International publication number)：1995191740
Application date： Dec. 27, 1993
Publication date： Jul. 28, 1995
Summary：
【要約】【目的】 設備異常診断の条件決定方法として、プロセスの運転データを基にして、プロセスの正常と異常とを識別する境界値を一次函数で表し、短い時間に簡単に求める方法を提供する。【構成】 プロセスを運転中に、必要な範囲にわたって順次収集保存したプロセスの計測データを数分割して、その区間のデータを最も正しく表わす一次函数を最少二乗法により求める。この一次函数と先のデータとの間の標準偏差を求め、そのうちの最大のものを共通標準偏差値として、経験値係数αを乗じて、各区間につきプロセスの異常限界を診断する上限、下限の各折れ線函数を作成する。運転中の計測データがこの上限、下限を表す各折れ線函数で挟まれる範囲に存在しない場合にプロセスが異常であると診断して信号を出力することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
対象とするプロセスから順次計測データを収集して、前記プロセスが異常であるか否かを診断する異常診断方法において、(a)収集保存しているプロセスの計測データを順次プロットして、対象とするデータの範囲を必要な数の区間に等分割する手順と、(b)前記第一の区間では区間内のデータ各点からの距離との差の二乗和が最少になる折れ線函数を求める手順と、(c)前記第二以降の区間では先に決定した折れ線函数とつながることを制約条件として、区間内のデータ各点からの距離との残差の二乗和が最少になる折れ線函数を求める手順と、(d)上記と同じ制約条件の下で、第1の区間及び以降の区間の位置を順次移行させて、前記分割した全ての区間について、データ各点からの距離の差の二乗和が最少になる折れ線函数を求め、全ての区間について求めた、データ各点からの距離の差の二乗和の合計が最も小さい折れ線函数を求める手順と、(e)上記のようにして求めた折れ線函数(中央折れ線函数)の各区間毎に中央折れ線函数からの標準偏差σを求める手順と、(f)上記標準偏差σのうち最大のものを共通標準偏差値として、経験値係数αを乗じて、上限、下限の各折れ線函数を作成する手順と、(g)この上限、下限の各折れ線函数で挟まれる範囲に存在しない計測データに基づいてプロセスが異常であると診断して信号を出力する手順とを有することを特徴とする異常診断方法。
Patent cited by the Patent：
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