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J-GLOBAL ID：200903009374061081
電位測定素子
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
,
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002073238
Publication number (International publication number)：2003232823
Application date： Feb. 12, 2002
Publication date： Aug. 22, 2003
Summary：
【要約】【課題】表面電位を測定するための素子を提供する。【解決手段】本発明の電位測定素子10においては,固体誘電体15を被測定物の表面1aに接触させ,被測定物の表面1aの信号が印加される誘電体の誘電率を,発振部34が発生する励振波に応じて変化させ,検出電極11に接続された検出部の端子間に,被測定物の表面1aの表面電位が変調された交流電圧信号を発生する。この素子を用いて表面電位を計測する例を以下に記述する。検出部の端子間に発生した交流電圧信号を濾波部31,交流増幅部32を介し同期検波部33に入力し,発振部34の励振波に同期したクロックを発生させるクロック発生部35の出力を参照信号として同期検波,増幅する。この電位測定素子10を用いることにより,被測定物と測定用電極間の接触電位差の影響を受けることなく,被測定物の表面電位を測定することができる。
Claim (excerpt)：
被測定物に接触した固体誘電体と,前記固体誘電体により絶縁された電極が存在する場合にはその電極を含む,検出電極と,前記検出電極に接続された検出部と,を有するセンサにおいて,被測定物の信号が印加される誘電体の誘電率を変化させることにより,前記検出部の端子間に交流電圧信号を発生することを特徴とした電位計測素子。
IPC (2)：
FI (3)：
G01R 29/12 D
, G01R 29/12 F
, A61B 5/04 300 B
