Pat
J-GLOBAL ID:200903009424115579
三次元形状測定装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996025292
Publication number (International publication number):1997218020
Application date: Feb. 13, 1996
Publication date: Aug. 19, 1997
Summary:
【要約】【課題】 計測性能の低下を回避しつつ小型化が図れ、測定作業性に優れ、異なる距離にある被測定物に対して測定を可能とした三次元形状測定装置を提供すること。【解決手段】 照準光37aを発光する発光手段37と、被測定物2に照射された照準光37aの散乱光22を受光する受光手段38と、照準光37aを被測定物2へ向けて反射させ、かつ、被測定物2からの散乱光22を受け受光手段側へ反射させる第一ミラー33と、発光手段37と第一ミラー33の間における照準光37aの導光経路の途上に配設され発光手段37から発せられる照準光37aを第一ミラー33へ向けて反射させる第二ミラー35と、少なくとも第一ミラー33を水平な軸を中心に回動させると共に垂直な軸を中心に回動させる回動手段と、照準光37aの照射方向、照射スポット21の受光方向および発光位置と受光位置との距離に基づいて照射スポット21の座標データを算出する座標変換手段5とを備えて構成されている。
Claim (excerpt):
被測定物の表面に照射スポットを形成するための照準光を発光する発光手段と、その被測定物の表面上の前記照射スポットの散乱光を受光する受光手段と、長尺状の反射面を有し、その反射面により前記照準光を前記被測定物へ向けて反射させ、かつ、その照準光の反射位置から前記反射面の長手方向へ隔てた位置において前記被測定物からの前記散乱光を受け前記受光手段側へ反射させる第一ミラーと、前記発光手段と前記第一ミラーの間における前記照準光の導光経路の途上に配設され、前記発光手段から発せられる前記照準光を前記第一ミラーへ向けて反射させる第二ミラーと、少なくとも前記第一ミラーを前記反射面の長手方向とほぼ平行な軸を中心に回動させると共に、その長手方向と直交する軸を中心に回動させる回動手段と、前記被測定物への照準光の照射方向、前記散乱光の受光方向および発光位置と受光位置との距離に基づいて、前記照射スポットの座標データを算出する座標変換手段と、を備えた三次元形状測定装置。
IPC (2):
FI (2):
G01B 11/24 C
, G01B 11/00 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
-
路面形状測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-108479
Applicant:株式会社トキメック
Return to Previous Page