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J-GLOBAL ID:200903009440775724

円筒状物の表層部探傷装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鈴江 武彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994034894
Publication number (International publication number):1995244027
Application date: Mar. 04, 1994
Publication date: Sep. 19, 1995
Summary:
【要約】【目的】円筒状物の表層部の、あらゆる方向の欠陥及び疲労層の検出が1回の探傷で可能とすること。【構成】表面波法による超音波探触子を円筒状物の軸方向疵用16と周方向疵用17と設けると共に、渦流探傷センサ23aを設けてなる円筒状物の表層部探傷装置。
Claim (excerpt):
表面波法による超音波探触子を円筒状物の軸方向疵用と周方向疵用と設けると共に、渦流探傷センサを設けてなる円筒状物の表層部探傷装置。
IPC (2):
G01N 29/10 502 ,  G01N 27/90
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 特開昭62-080553
  • 特開昭61-133856
  • 特開昭53-010484
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