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J-GLOBAL ID：200903009459635524

内視鏡形状検出装置

Inventor： 長谷川 潤 ,  野波 徹緒
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995224156
Publication number (International publication number)：1997084745
Application date： Aug. 31, 1995
Publication date： Mar. 31, 1997
Summary：

【要約】【課題】 簡単な構成により、内視鏡に内蔵された磁界を発生するコイルの位置を精度よく求め、内視鏡の位置及び方向を正確に検出する。【解決手段】 センスコイル22jで検出される微小な磁界検出信号は、センスコイル出力増幅器27で増幅された後、相互インダクタンス検出部26に入力され、得られた信号は形状算出部30を構成するソースコイル位置検出部31に入力され、各ソースコイルの位置情報を得る。ソースコイル位置検出部31でのソースコイルの位置の検出方法は、ソースコイルの位置と方向を決定することで、センスコイル22jに発生する起電力を推定し、その推定値と複数のセンスコイル22jから得られる起電力の測定値との差が最小となるように推定値側の位置と向きを求める。

Claim (excerpt)：

内視鏡挿入部内に配置され、体腔内における前記内視鏡挿入部の形状を推定するための少なくとも1つの単心コイルによって磁界を発生する複数の磁界発生素子と、体腔外の既知の位置に配置され、少なくとも1つの単心コイルによって発生する磁界を検出する複数の検出素子と、前記検出素子より検出された検出信号から体腔内における前記内視鏡挿入部内の前記磁界発生素子の位置を推定する推定手段とを備え、前記検出素子は、前記磁界発生素子の磁界を起電力として検出する異なる位置に置かれた少なくとも1つの単心コイルからなることを特徴とする内視鏡形状検出装置。

IPC (3)：

A61B 1/00 300 ,  A61B 1/00 310 ,  G02B 23/24

FI (3)：

A61B 1/00 300 D ,  A61B 1/00 310 A ,  G02B 23/24 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 内視鏡挿入状態検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-260149   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• カテーテルガイド装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-359388   Applicant：株式会社島津製作所