材料の劣化度測定システムおよび測定装置

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：小川勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995016667
Publication number (International publication number)：1995286956
Application date： Feb. 03, 1995
Publication date： Oct. 31, 1995
Summary：

【要約】【目的】機器の運転を停止せずに機器の絶縁材料や構造材料の劣化度を非破壊で測定できる劣化度測定システムの提供。【構成】少なくとも2種の単色光を光ファイバで被測定物表面に照射し、反射光を光ファイバで光量測定部に導き、劣化度演算部において各波長における反射吸光度(Aλ)を算出後、各波長間の反射吸光度差(ΔAλ)あるいは反射吸光度比(Aλ′)を演算し、さらに予め被測定物の劣化度と各波長間の反射吸光度差あるいは反射吸光度比との関係を記憶させた関数発生部からの出力とを比較演算することによって劣化度を判定する。

Claim (excerpt)：

波長が相異なる少なくとも2種の単色光光源からの照射光を照射用光ファイバで導き被測定物表面に照射し、該被測定物表面からの反射光を受光用光ファイバを用いて光量測定部に導き、劣化度演算部において該光量測定部からの出力より各波長における反射吸光度(A<SB>λ</SB>)を(1)式で算出後、各波長間の反射吸光度差(ΔA<SB>λ</SB>)を(2)式で演算し、さらに予め被測定物の劣化度と各波長間の反射吸光度差との関係を記憶させた関数発生部からの出力とを比較演算することによって劣化度を判定することを特徴とする材料の劣化度測定システム。【数1】 A<SB>λ</SB>=-log(R<SB>λ</SB>/100) ...(1) ΔA<SB>λ</SB>=A<SB>λ1</SB>-A<SB>λ2</SB>(ただし、λ1<λ2) ...(2)(波長λ(nm)における被測定物の反射率をR<SB>λ</SB>(%)とする)

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (58)

特開平1-265139
光検出用プローブ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-208536 Applicant：株式会社安川電機
特開昭53-015890

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