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J-GLOBAL ID：200903009634254547

光コヒーレンストモグラフィーにおける透光体の動きによる高速光遅延発生方法及びその高速光遅延発生装置

Inventor： 丹野 直弘 ,  チャン キンプイ ,  松村 澄男 ,  長谷川 倫郎 ,  日野 幸紀 ,  中川 亨 ,  河野 正博
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団 ,  エムテックスマツムラ株式会社
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001114895
Publication number (International publication number)：2002310897
Application date： Apr. 13, 2001
Publication date： Oct. 23, 2002
Summary：

【要約】【課題】 物体光における光軸の奥行き方向(Z方向)の走査距離を長く設定することができる光コヒーレンストモグラフィーにおける透光体の動きによる高速光遅延発生方法及びその高速光遅延発生装置を提供する。【解決手段】 低コヒーレンス光源1と、この低コヒーレンス光源1からの光を被検査物Aへの物体光と参照光とに2分割するハーフミラー2と、前記参照光を透過させる高速揺動又は高速回転する透光体(透明ガラス)を配置する光遅延機構としての透明ガラスの移動装置11と、この透明ガラスの移動装置11からの参照光を反射回帰する固定反射ミラー12と、被検査物Aから回帰する物体光と前記透明ガラスの移動装置11から回帰する参照光とを合波する前記ハーフミラー2と、このハーフミラー2で合波されたヘテロダイン干渉ビート信号を含む干渉光を検出する光検出器13とを具備する。

Claim (excerpt)：

所定厚さの透光体を揺動可能に配置し、該透光体に対する光束の通過角度を連続的に変えることにより、光路長を連続的に伸縮させ、ドップラー周波数シフトを与えることを特徴とする光コヒーレンストモグラフィーにおける透光体の動きによる高速光遅延発生方法。

IPC (3)：

G01N 21/17 630 ,  G01N 21/17 ,  A61B 3/12

FI (3)：

G01N 21/17 630 ,  G01N 21/17 A ,  A61B 3/12 Z

F-Term (11)：

2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059KK04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 光学的断層像撮影装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-087636   Applicant：株式会社生体光情報研究所
• 干渉計および光パルス幅測定装置ならびにそれを用いた光パルス幅測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-196884   Applicant：株式会社応用光電研究室
• 光学式成分計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-346037   Applicant：松下電器産業株式会社
• 光断層診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-159270   Applicant：オリンパス光学工業株式会社