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J-GLOBAL ID：200903009642259353

光検出器の変調周波数特性測定装置及び測定方法

Inventor： 吉岡 正裕 ,  佐藤 宗純
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003380808
Publication number (International publication number)：2005147685
Application date： Nov. 11, 2003
Publication date： Jun. 09, 2005
Summary：

【課題】基準となる光検出器を用いなくとも被測定光検出器の周波数特性を正確に測定する方法並びにその測定装置を実現する。【解決手段】光源9からの光を、発振器12で駆動される外部変調器10、11により強度変調し、被測定光検出器14に照射し、検出器14で検出した光の強度を電気信号に変換してその強度を周波数分析装置で測定し、この時、光源9あるいは外部光変調器10、11の変調特性は、対象とする周波数範囲で動作することが確認されているだけで良く、正確な変調特性を知っておく必要はない。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

変調半導体レーザからの強度変調光を再度強度変調する外部光変調器と、電気信号を測定する周波数分析装置とを備えており、 被測定対象である光検出器に前記再度強度変調した光を受光させて変換した電気信号を、前記周波数分析装置で測定できることを特徴とする変調周波数特性測定装置。

IPC (2)：

G01M11/00 ,  H01L31/10

FI (2)：

G01M11/00 T ,  H01L31/10 Z

F-Term (3)：

2G086EE04 ,  5F049NA20 ,  5F049NB01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特公平8-20333