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J-GLOBAL ID：200903009678820191
光ファイバの歪測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
岡田 和秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993142023
Publication number (International publication number)：1995005067
Application date： Jun. 14, 1993
Publication date： Jan. 10, 1995
Summary：
【要約】【目的】 比較的簡単な構成でもって、光ファイバに生じる歪が圧縮力あるいは引張力のいずれに起因するのか、また、歪の大きさがどの程度分散しているのか等の状況を容易に把握できるようにする。【構成】 単一波長でかつ連続発光される光を発生する単一の光源4と、入射光を電気信号に変換する光検出器6と、光源4からの光を被測定対象となる光ファイバ2に向けて導くとともに、この光ファイバ2内に入射された光の後方散乱に基づく後方散乱光を光検出器6に導く光学系8と、光検出器6で受光される後方散乱光に含まれるレイリー散乱光と誘導ブリルアン散乱光との干渉に基づくビート信号の周波数を検出するブリルアン周波数シフト検出手段14とを備えている。
Claim (excerpt)：
単一波長でかつ連続発光される光を発生する単一の光源と、入射光を電気信号に変換する光検出器と、前記光源からの光を被測定対象となる光ファイバに向けて導くとともに、この光ファイバ内に入射された光の後方散乱に基づく後方散乱光を前記光検出器に導く光学系と、前記光検出器で受光される後方散乱光に含まれるレイリー散乱光と誘導ブリルアン散乱光との干渉に基づくビート信号の周波数を検出するブリルアン周波数シフト検出手段と、を備えることを特徴とする光ファイバの歪測定装置。
IPC (2)：
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