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J-GLOBAL ID：200903009759625008

X線分析装置および蛍光X線分析用アタッチメント

Inventor： 小林 勇二
Applicant, Patent owner： 理学電機株式会社
Agent (1)： 山本 寿武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996070414
Publication number (International publication number)：1997257726
Application date： Mar. 26, 1996
Publication date： Oct. 03, 1997
Summary：

【要約】【課題】 一台の装置でX線回折測定と蛍光X線分析とを簡易に実施できるようにする。【解決手段】 ゴニオメータ6のθ回転テーブル4に設けた試料Sに対しX線源1からX線を照射し、試料Sで回折してきた回折X線をX線検出器(第一のX線検出器3)で検出するとともに、ゴニオメータ6の2θ回転アーム5の読みをもって回折角度を測定できるX線回折装置の構造を基本とし、この基本構造に加えて蛍光X線分析に必要となる分光結晶10とソーラユニット11を備える。そして、蛍光X線分析を行なう場合は、X線の照射に伴い試料Sから放射された蛍光X線を分光結晶10によって分光し、ソーラスリット11を通して発散を制限した後、X線検出器(第二のX線検出器12)に入射させる。

Claim (excerpt)：

本体にθ回転部および2θ回転部を備えたゴニオメータと、このゴニオメータのθ回転部に設けた試料に対しX線を照射するX線源と、前記ゴニオメータの2θ回転部に設置したX線検出器とを含むX線回折装置に装着する蛍光X線分析用アタッチメントであって、前記ゴニオメータのθ回転部に設置し、X線の照射に伴い試料から放射された蛍光X線を分光する分光結晶と、前記ゴニオメータの2θ回転部に設置し、前記分光結晶により分光した蛍光X線の向きと発散を制限するソーラスリットとを備えたことを特徴とする蛍光X線分析用アタッチメント。

IPC (2)：

G01N 23/207 ,  G01N 23/223

FI (2)：

G01N 23/207 ,  G01N 23/223