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J-GLOBAL ID：200903009813226521

不良検査回路付き導電回路形成品

Inventor： 宮下 貴之
Applicant, Patent owner： ポリプラスチックス株式会社
Agent (1)： 越場 隆
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995186142
Publication number (International publication number)：1996334552
Application date： Jun. 07, 1995
Publication date： Dec. 17, 1996
Summary：

【要約】【構成】 LED用のパッケージ10を4×4に配列した集合体の形状の合成樹脂成形体1と、その表面上に形成された導電回路21および22とを有する導電回路形成品で、導電回路21は、各パッケージ10の図面下側の部分の導電部をすべて連結するよう形成され、導電回路22は、各パッケージ10の図面上側の部分の導電部をすべて連結するよう構成されている。導電回路21および22の端部は、合成樹脂成形体1の一端に形成されたコネクタ部4まで延長されており、検査装置のコネクタと接続可能に構成されている。【効果】 パッケージ10の不良検査が容易に、短時間で行える。

Claim (excerpt)：

表面に導電性回路を有する合成樹脂成形品で構成された導電回路形成品において、上記導電性回路が、導電性回路自身の不良検査をするための回路を含むことを特徴とする導電回路形成品。

IPC (3)：

G01R 31/28 ,  H01L 33/00 ,  H01L 21/66

FI (3)：

G01R 31/28 U ,  H01L 33/00 K ,  H01L 21/66 E

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭58-194383
  
• 特開昭58-194383