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J-GLOBAL ID：200903009826044368

粒径分布測定装置

Inventor： 山口 哲司
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000207358
Publication number (International publication number)：2002022646
Application date： Jul. 07, 2000
Publication date： Jan. 23, 2002
Summary：

【要約】【課題】 粒子の分散媒に対する分散状態と粒径分布を同時に測定できる粒径分布測定装置を提供する。【解決手段】 測定対象試料Sに含まれる粒子の粒径分布を測定する粒径分布測定装置1であって、この粒径分布測定装置1が測定対象試料S’のpHを測定するpHメータ11hと、このpHメータ11hが測定したpHの値とそのときの粒径分布の測定値からpHと粒径分布の関係を求める情報処理部9とを有する。

Claim (excerpt)：

測定対象試料に含まれる粒子の粒径分布を測定する粒径分布測定装置であって、測定対象試料のpHを測定するpHメータと、このpHメータが測定したpHの値とそのときの粒径分布の測定値からpHと粒径分布の関係を求める情報処理部とを有することを特徴とする粒径分布測定装置。

IPC (6)：

G01N 15/02 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/36 ,  G01N 15/06 ,  G01N 27/26 361 ,  G01N 27/416

FI (7)：

G01N 15/02 Z ,  G01N 15/02 C ,  G01N 1/00 101 G ,  G01N 15/06 E ,  G01N 27/26 361 F ,  G01N 1/28 Y ,  G01N 27/46 353 G