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J-GLOBAL ID：200903009945559031
探触子及びこれを用いた探傷試験又は材料評価試験方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
北村 光司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996097751
Publication number (International publication number)：1997257775
Application date： Mar. 26, 1996
Publication date： Oct. 03, 1997
Summary：
【要約】【課題】 表面波やSH波の発生効率が良く、モード変換ブロックや楔等を基本的には用いない簡易な構成の探触子及びこれを用いた探傷試験又は材料評価試験方法を提供すること。【解決手段】 樹脂膜2と電極シート3a,3bとを交互に複数枚績層して接着し、績層体を形成する。電極シート3a,3bは樹脂膜2よりも二つの電極の振り分け方向D2に対して幅広に形成されている。各電極シート3a,3bと樹脂膜2との非重なり部分6bが振り分け方向D2に対し交互に位置するように樹脂膜2と電極シート3a,3bとを重ねる。電極シート3a,3bは一つ置きに二つの電極に振り分けて導電ペースト4a,4bによりそれぞれ接続する。各樹脂膜2の平面に交差する方向に対して績層体を薄く切り出す。各樹脂膜はその材質と膜厚等に応じた固有振動数で当該績層方向に伸縮する。
Claim (excerpt)：
樹脂膜(2)と電極シート(3a,3b)とを交互に複数枚績層して接着した績層体(6)を各樹脂膜(2)の平面に交差する方向(D3)に対して薄く切り出し、前記電極シート(3a,3b)を一つ置きに二つの電極(5a,5b)に振り分けて接続可能に構成してある探触子。
IPC (2)：
FI (2)：
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