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J-GLOBAL ID:200903010012352698
パラメータ学習方法及びその装置、パターン識別方法及びその装置、プログラム
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (2):
西山 恵三
, 内尾 裕一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006181896
Publication number (International publication number):2008009893
Application date: Jun. 30, 2006
Publication date: Jan. 17, 2008
Summary:
【課題】 高速かつ高精度なパターン識別のためのパラメータ学習方法を提供する。【解決手段】 それぞれが属するクラスと対応付けられた複数の学習データを入力し(ステップS101)、前記複数の学習データの各々において、特定のk個(k≧1)の部分について部分ごとに要素の総和値を算出する(ステップS103)。前記複数の学習データの各々を、算出した前記k個の総和値を要素とするベクトルとして、該k個の総和値によって張られるk次元特徴空間に写像し(ステップS104)、写像された各学習データとその属するクラスとに基づいて、当該k次元特徴空間において、入力データを前記複数のクラスに分類するためのパラメータを学習する(ステップS107〜110)。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
入力データを複数のクラスに分類するためのパラメータ学習方法であって、
それぞれが属するクラスと対応付けられた複数の学習データを入力する学習データ入力ステップと、
前記複数の学習データの各々において、特定のk個(k≧1)の部分について部分ごとに要素の総和値を算出する算出ステップと、
前記複数の学習データの各々を、算出した前記k個の総和値を要素とするベクトルとして、該k個の総和値によって張られるk次元特徴空間に写像する写像ステップと、
前記k次元特徴空間に写像された各学習データとその属するクラスとに基づいて、当該k次元特徴空間において、入力データを前記複数のクラスに分類するためのパラメータを学習する学習ステップと
を有することを特徴とするパラメータ学習方法。
IPC (1):
FI (2):
G06T7/00 300F
, G06T7/00 350C
F-Term (7):
5L096AA06
, 5L096FA26
, 5L096HA09
, 5L096JA11
, 5L096JA22
, 5L096KA04
, 5L096MA07
Patent cited by the Patent: