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J-GLOBAL ID：200903010018883920

光パルス特性測定装置およびその測定方法

Inventor： 町田 進 ,  蒋 曙東 ,  山本 喜久
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団 ,  山本 喜久
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996185235
Publication number (International publication number)：1998030965
Application date： Jul. 16, 1996
Publication date： Feb. 03, 1998
Summary：

【要約】【課題】 光検波器に広帯域特性を要求することなく、高感度、かつ、高安定な光パルス特性測定装置およびその測定方法を提供する。【解決手段】 被測定光パルスは、入射端から入射され、光分岐器1で分岐され、一方はホモダイン検波の局部発振光として、ミラー2で反射され、光路差調整用遅延器3で光路長が他方と一致するように調整されて、光合波器7に導かれる。光分岐器1で分岐されたもう一方は信号光として、光路差変調用信号発生器4の信号で動作する光路差変調用ミラー5、相関長測定用遅延器6で反射されて、光合波器7に導かれる。光合波器7で合波された二つの光信号は光検波器8,9で検波され、差動増幅器10で光路差の変調によって生じた交流信号成分を測定可能な電圧まで増幅する。帯域通過ろ波器11は光路差の変調によって生じた交流信号成分のみを通過させて、SN比を改善する。相関長測定用遅延器6の遅延量に対する交流信号成分を交流電圧計12で測定し、自己相関波形を得る。

Claim (excerpt)：

(a)被測定光パルスを分岐する光分岐器と、(b)該光分岐器のどちらか一方の光路長を変調する手段と、(c)前記光分岐器のどちらか一方の光路長を変化させる手段と、(d)二つの出力光を合波する光合波器と、(e)該光合波器の出力光を検波する光検波器と、(f)該光検波器の出力の交流信号の振幅を測定する手段とを備えたことを特徴とする光パルス特性測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭59-023225
  
• 特開平4-331334
  

Cited by examiner (4)

• 特開平4-331334
  
• 特開昭59-023225
  
• 特開昭59-023225
  
• 特開平4-331334