Pat

J-GLOBAL ID：200903010052753750

飛行時間型質量分析計のイオン光学系

Inventor： 石原 盛男 ,  松尾 武清
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998292699
Publication number (International publication number)：1999195398
Application date： Oct. 15, 1998
Publication date： Jul. 21, 1999
Summary：

【要約】【課題】飛行時間型質量分析計のイオン光学系において、要求される空間収束条件および時間収束条件を満たす。【解決手段】4つの扇形電場を組み合わせて閉軌道のイオン光学系が構成される。4つの扇形電場はそれぞれ対称面に関して面対称に配置されて、交点Cで交差する閉軌道6が構成される。4つの扇形電場をすべて同一にし、二重対称に配置することにより、空間収束条件および時間収束条件を完全に満たすことのできるイオン光学系が実現できる。

Claim (excerpt)：

試料から発生したイオンを、複数の扇形電場を用い、1つ以上の交点で交差する閉じた軌道に沿って飛行させて質量分析する飛行時間型質量分析計のイオン光学系において、前記複数の扇形電場に、互いに異なる電場が少なくとも2つ以上あるか、または前記複数の扇形電場がすべて同一の電場であることを特徴とする飛行時間型質量分析計のイオン光学系。

IPC (3)：

H01J 49/06 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/40

FI (3)：

H01J 49/06 ,  G01N 27/62 K ,  H01J 49/40

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 多段式飛行時間型質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-142786   Applicant：日本電子株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• The Investigation of a New Time-of-Flight Mass Spectrometer
• MULTIPLE-FOCUSING TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS PARTII. TOFMS WITH EQUAL ENERGY ACCELERATION
• Ion optics of a high resolution multipassage mass spectrometer with electrostatic ion mirrors