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J-GLOBAL ID：200903010095986162

柱上変圧器の劣化診断方法およびその装置

Inventor： 片桐 純一 ,  竹澤 由高 ,  武田 大吾 ,  丹羽 章裕 ,  近藤 泰吉
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  中部電力株式会社
Agent (1)： 小川 勝男 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001277769
Publication number (International publication number)：2003083882
Application date： Sep. 13, 2001
Publication date： Mar. 19, 2003
Summary：

【要約】【課題】柱上変圧器劣化診断用の光ファイバプローブの取扱いを容易にし、かつ測定精度を高める。【解決手段】柱上変圧器1内に設けられている絶縁材料の劣化を、当該絶縁材料に照射した複数波長の反射吸光度の差から診断するにあたり、前記柱上変圧器1の二次ライン線絶縁紙11に、照射用光ファイバケーブル6・受光用光ファイバケーブル7を備える光ファイバプローブを一定圧力で接触させる。

Claim (excerpt)：

柱上変圧器内に設けられている絶縁材料の劣化を、当該絶縁材料に照射した複数波長の反射吸光度の差から光ファイバプローブで診断する診断方法であって、前記柱上変圧器の二次ライン線絶縁紙に、照射用光ファイバケーブル・受光用光ファイバケーブルを備える光ファイバプローブを一定圧力で接触させ、前記二次ライン線絶縁紙の反射光強度を測定して、反射吸光度差から変圧器の劣化度を判定することを特徴とする柱上変圧器の劣化診断方法。

IPC (3)：

G01N 21/27 ,  G01R 31/12 ,  H01F 41/00

FI (3)：

G01N 21/27 B ,  G01R 31/12 Z ,  H01F 41/00 D

F-Term (17)：

2G015AA04 ,  2G015AA07 ,  2G015BA09 ,  2G015CA20 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059CC20 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF07 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ17 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059NN10