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J-GLOBAL ID：200903010138016057

超音波診断装置

Inventor： 坪井 晃 ,  原島 雅
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991349900
Publication number (International publication number)：1993161643
Application date： Dec. 10, 1991
Publication date： Jun. 29, 1993
Summary：

【要約】【目的】使用者(オペレータ)の要望に合わせた計測ができ、診断の効率の向上を図る。【構成】計測に関する種類、手順等の各種を表示する表示手段と、この表示手段から計測に関する種類、手順等を選択あるいは新たに決定でる選択手段と、この選択手段により選択され情報を格納する記憶手段と、この記憶手段に格納された情報に基づいて計測がなされる計測手段とを備える。

Claim (excerpt)：

計測に関する種類、手順等を表示する表示手段と、この表示手段から計測に関する種類、手順等を選択あるいは新たに決定でる選択手段と、この選択手段により選択され情報を格納する記憶手段と、この記憶手段に格納された情報に基づいて計測がなされる計測手段とを備えたことを特徴とする超音波診断装置。

IPC (4)：

A61B 8/00 ,  A61B 5/107 ,  G01B 17/00 ,  G01N 29/22

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平3-103245
  
• 特開昭63-317134
  
• 特開昭62-258641