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J-GLOBAL ID：200903010174521892

三次元形状測定装置および方法

Inventor： 加藤 貴幸 ,  山谷 英樹 ,  山内 智史 ,  波場 久幸
Applicant, Patent owner： 株式会社アイ・エイチ・アイ・エアロスペース・エンジニアリング
Agent (1)： 堀田 実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003047326
Publication number (International publication number)：2004254828
Application date： Feb. 25, 2003
Publication date： Sep. 16, 2004
Summary：

【課題】上部中央部に凹部を有するような死角部を有する複雑な立体形状の被測定物であっても非接触で被測定物の三次元形状を確実かつ高精度に計測することができる三次元形状測定装置および方法を提供する。【解決手段】保持回転装置12、光位置検出素子14、16、レーザ装置18、演算装置20、及び補間手段22を備え、被測定物Mを通る複数の垂直軸z1、z2を中心に被測定物をそれぞれ回転させ、被測定物に向けてレーザ光1を照射し、レーザ光の走査方向と該レーザ光の反射光の前記複数の光位置検出素子による受光位置から、被測定物の複数の形状測定データ群を演算し、複数の垂直軸z1、z2の1つにおける形状測定データ群から死角部範囲を特定し、かつ他の垂直軸における形状測定データ群から死角部範囲のデータを補間する。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

死角部を有する被測定物(M)の表面形状を非接触で測定する三次元形状測定装置であって、 被測定物(M)を保持しこれを通る複数の垂直軸(z1、z2)を中心に被測定物をそれぞれ回転させる保持回転装置(12)と、被測定物からの反射光を受ける複数の光位置検出素子(14、16)と、前記複数の光位置検出素子の間に位置し被測定物に向けてレーザ光(1)を走査するレーザ装置(18)と、レーザ光の走査方向と該レーザ光の反射光の前記複数の光位置検出素子による受光位置から複数の垂直軸(z1、z2)における被測定物の複数の形状測定データ群を演算する演算装置(20)と、前記複数の形状測定データ群から死角部を補間する補間手段(22)と、を備えたことを特徴とする三次元形状測定装置。

IPC (3)：

A61C13/34 ,  A61C19/04 ,  G01B11/24

FI (3)：

A61C13/34 Z ,  G01B11/24 A ,  A61C19/04 Z

F-Term (13)：

2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065CC16 ,  2F065FF41 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ16 ,  2F065LL62 ,  2F065MM04 ,  2F065MM16 ,  2F065PP13 ,  4C052AA20 ,  4C052NN04 ,  4C052NN15