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J-GLOBAL ID:200903010258300131

ポジ型感放射線性組成物およびこれを用いたレジストパターンの製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002103440
Publication number (International publication number):2002372785
Application date: Apr. 05, 2002
Publication date: Dec. 26, 2002
Summary:
【要約】【課題】サブクォーターミクロンのパターン加工が可能な解像度を持ち、高感度なポジ型感放射線性組成物を得る。【解決手段】a)ラクトン残基を有する構造単位と、芳香環を有する構造単位を含む重合体と、b)放射線の照射によって酸を発生する酸発生剤を含有することを特徴とするポジ型感放射線性組成物であって、a)が酸の作用によりアルカリ可溶性基を生成してアルカリ現像液に可溶化する重合体であることを特徴とするポジ型感放射線性組成物、およびこれを用いたレジストパターンの製造方法。
Claim (excerpt):
a)ラクトン残基を有する構造単位と、芳香環を有する構造単位を含む重合体と、b)放射線の照射によって酸を発生する酸発生剤を含有することを特徴とするポジ型感放射線性組成物であって、a)が酸の作用によりアルカリ可溶性基を生成してアルカリ現像液に可溶化する重合体であることを特徴とするポジ型感放射線性組成物。
IPC (6):
G03F 7/039 601 ,  C08F 20/10 ,  C08F 20/42 ,  C08F212/04 ,  C08F214/00 ,  H01L 21/027
FI (6):
G03F 7/039 601 ,  C08F 20/10 ,  C08F 20/42 ,  C08F212/04 ,  C08F214/00 ,  H01L 21/30 502 R
F-Term (52):
2H025AB08 ,  2H025AB16 ,  2H025AC06 ,  2H025AD03 ,  2H025BE00 ,  2H025BG00 ,  2H025EA10 ,  2H025FA03 ,  2H025FA12 ,  2H025FA17 ,  4J100AB07Q ,  4J100AC07Q ,  4J100AC11Q ,  4J100AC21Q ,  4J100AL08P ,  4J100AL08Q ,  4J100AL16P ,  4J100AL16Q ,  4J100AL26P ,  4J100AL26Q ,  4J100AL74Q ,  4J100AL91Q ,  4J100AM03P ,  4J100AM03Q ,  4J100BA02Q ,  4J100BA03Q ,  4J100BA05Q ,  4J100BA06Q ,  4J100BA10Q ,  4J100BA11P ,  4J100BA15P ,  4J100BA15Q ,  4J100BA16Q ,  4J100BA20Q ,  4J100BA22Q ,  4J100BA41Q ,  4J100BA53Q ,  4J100BA55Q ,  4J100BA76Q ,  4J100BB03Q ,  4J100BC02Q ,  4J100BC03Q ,  4J100BC04Q ,  4J100BC23Q ,  4J100BC43Q ,  4J100BC49Q ,  4J100BC53P ,  4J100BC53Q ,  4J100BC69Q ,  4J100CA01 ,  4J100CA04 ,  4J100JA38
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (13)
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