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J-GLOBAL ID：200903010273417088

視野計

Inventor： 鈴村 芳克
Applicant, Patent owner： 興和株式会社
Agent (1)： 加藤 卓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999074733
Publication number (International publication number)：2000262472
Application date： Mar. 19, 1999
Publication date： Sep. 26, 2000
Summary：

【要約】【課題】 視野障害を正確にしかも効率よく検出することが可能な視野計を提供する。【解決手段】 電子画像化された眼底画像30がモニタ15に表示され、視野を測定すべき領域31がライトペン24などで設定される。設定された領域に対して視野測定が行われ、その測定結果34が眼底画像30と合成されてモニタ15aに表示される。このような構成では、眼底画像が表示される画面で測定すべき視野測定領域を指定することができるので、視野障害を効率よく検出することができる。

Claim (excerpt)：

電子画像化された眼底画像データを入力する手段と、入力された眼底画像データを表示する表示部と、表示部に表示された眼底画像の所定の領域を設定する領域設定手段と、設定された領域の視野測定を行なう測定プログラムと、を有することを特徴とする視野計。

IPC (2)：

A61B 3/024 ,  H04N 7/18

FI (2)：

A61B 3/02 F ,  H04N 7/18 Z

F-Term (9)：

5C054CA04 ,  5C054CC02 ,  5C054FC12 ,  5C054FE09 ,  5C054FE13 ,  5C054FE19 ,  5C054GA04 ,  5C054GA05 ,  5C054HA12

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 視野計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-229370   Applicant：キヤノン株式会社