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J-GLOBAL ID:200903010311201779

検査対象の断層撮影によるスライス画像の作成方法およびコンピュータ断層撮影装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山口 巖
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005247251
Publication number (International publication number):2006068523
Application date: Aug. 29, 2005
Publication date: Mar. 16, 2006
Summary:
【課題】CT撮影の画質を、発生する画像ノイズまたは時間分解能に関して選択的に最適化することを可能にする。【解決手段】検査対象7の走査のために、それぞれ1つの焦点Fxから対向する検出器Dxへ向けて扇状に広がり且つ角度のずれた少なくとも2つのビームSxが発生され、これらのビームがシステム軸線9の周りを回転しながら検査対象7を走査し、走査の少なくとも部分的な重ね合わせが行なわれ、検出器要素から出力される検出器出力データが、ビームの空間的方位データと共に測定されて投影データセットに変換され、完全なスライス画像の算出のために完全なスライス画像ごとに少なくとも2つの走査ビームSxの測定データから重なり合う投影間隔14の重複するデータが使用され、時間分解能および画質の変更のためにスライス画像の算出前に、個々のビームSxの使用された投影データ11,12,13の重なり範囲16の大きさが決定される。【選択図】図5
Claim (excerpt):
特に少なくとも部分的に周期的に運動する検査範囲を有する検査対象(7)の走査のために、それぞれ1つの焦点(Fx)から複数の検出器要素を有する対向する1つの検出器(Dx)へ向けて扇状に広がり且つ角度のずれた少なくとも2つのビーム(Sx)が発生され、これらのビームがシステム軸線(9)の周りを回転しながら検査対象(7)を走査し、 場合によってはビーム(Sx)に対して相対的なシステム軸線方向への検査対象(7)の連続的な送りが行なわれ、 走査の少なくとも部分的な重ね合わせが行なわれ、 検査対象(7)を透過する際のビームの減弱を表わし検出器要素から出力される検出器出力データが、ビームの間接的または直接的な空間的方位データと共に測定されて投影データセット(11,12,13)に変換され、 引続いて少なくとも2つの走査ビーム(Sx)の投影データセットによりスライス画像が算出され、完全なスライス画像ごとに、少なくとも2つの走査ビーム(Sx)の測定データから構成され少なくとも180°の投影間隔(14)を有する走査の和から得られたデータが使用される コンピュータ断層撮影装置(1)により検査対象の断層撮影によるスライス画像を作成する方法において、 完全なスライス画像の算出のために、完全なスライス画像ごとに、少なくとも2つのビーム(Sx)の測定データから、部分的に重なり合う投影間隔(11,12,13)の重複するデータが使用され、 時間分解能および画質の変更のためにスライス画像の算出前に、個々のビーム(Sx)の使用された投影データ(11,12,13)の重なり範囲(16)の大きさが決定される ことを特徴とする検査対象の断層撮影によるスライス画像の作成方法。
IPC (1):
A61B 6/03
FI (3):
A61B6/03 320B ,  A61B6/03 321N ,  A61B6/03 350U
F-Term (9):
4C093BA10 ,  4C093CA03 ,  4C093CA06 ,  4C093CA13 ,  4C093EA06 ,  4C093FD12 ,  4C093FE13 ,  4C093FE14 ,  4C093FG05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 独国特許出願第10354900.5号明細書(米国特許出願公開第2005-0111623号明細書)
  • 独国特許出願公開第10354214号明細書

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