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J-GLOBAL ID:200903010332792343

眼科測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 橋爪 健
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006093022
Publication number (International publication number):2007260339
Application date: Mar. 30, 2006
Publication date: Oct. 11, 2007
Summary:
【課題】被検者がより自然な状態のまま又は所定期間毎に瞬きを促して、一定の条件のもとでの測定結果を得るようにし、ドライアイの程度を判別しやすくする。【解決手段】 測定部601は、被測定眼からの反射光束に基づき、ある瞬きから次の瞬きまでの瞬き間隔における被測定眼の各光学特性の時間経過を表す2次元ベクトル形式の光学特性データを、第1回〜第n回の瞬き間隔について求める。解析部604は、測定部601で測定された第1回〜第n回の瞬き間隔についての光学特性データのそれぞれを1次元的に配置し、第p回の瞬き間隔の光学特性の1次元配置をそれぞれp列目に配置することで2次元配列を作成し、該2次元配列に主成分分析処理を施す。【選択図】図2
Claim (excerpt):
被測定眼を照明する照明光源を含む照明光学系と、 上記照明光学系の照明光束で照明された被測定眼からの反射光束を受け取り受光信号を形成する受光部を含む受光光学系と、 上記受光部で形成された受光信号に基づき、ある瞬きから次の瞬きまでの瞬き間隔における被測定眼の各光学特性の時間経過を表す2次元行列形式の光学特性データを、第1回〜第n回(nは、2以上の整数)の瞬き間隔について求める測定部と、 上記測定部で測定された第1回〜第n回の瞬き間隔についての光学特性データのそれぞれを1次元的に配置し、第p回(1≦p≦n)の瞬き間隔の光学特性の1次元配置をそれぞれp列目に配置することで2次元行列を作成し、該2次元行列に主成分分析処理を施す解析部と、 上記解析部による処理結果を表示する表示部と、 を備えた眼科測定装置。
IPC (2):
A61B 3/12 ,  A61B 3/10
FI (2):
A61B3/12 Z ,  A61B3/10 H
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
  • 眼科測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-175002   Applicant:興和株式会社
  • 眼科装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-281563   Applicant:興和株式会社
  • 眼科涙液観察装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-189734   Applicant:興和株式会社
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Cited by examiner (7)
  • 眼科装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2004-044463   Applicant:株式会社トプコン
  • 眼科装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2003-120967   Applicant:株式会社トプコン
  • 眼底分光像撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2004-118070   Applicant:学校法人早稲田大学, 興和株式会社, 川鉄テクノリサーチ株式会社
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