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J-GLOBAL ID:200903010372471809

X線CT装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 外川 英明
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999191565
Publication number (International publication number):2000033086
Application date: Jun. 14, 1990
Publication date: Feb. 02, 2000
Summary:
【要約】【課題】 ヘリカルスキャンにおけるアーチファクトの発生を低減させることができるX線CT装置を提供する。【解決手段】 被検体に対してX線を曝射するX線管8及び被検体を透過するX線を検出する検出器9を備え、この検出器9で得られるデータを基にして被検体の画像を再構成するX線CT装置において、X線管8及び検出器9が被検体に対して、180度にファン角度より大きな角度を加えた、360度より小さい角度のヘリカルスキャンを行って得られるデータを用いて、所定の補間処理を行い1回転分のデータを得る手段3を備えることを特徴とする。
Claim (excerpt):
被検体に対してX線を曝射するX線管及び前記被検体を透過するX線を検出する検出器を備え、この検出器で得られるデータを基にして被検体の画像を再構成するX線CT装置において、前記X線管及び前記検出器が前記被検体に対して、180度にファン角度より大きな角度を加えた、360度より小さい角度のヘリカルスキャンを行って得られるデータを用いて、所定の補間処理を行い1回転分のデータを得る手段を備えることを特徴とするX線CT装置。
IPC (2):
A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 321
FI (2):
A61B 6/03 350 R ,  A61B 6/03 321 N
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 特開昭62-227324
  • 特開平4-049952
  • 特開昭60-111640
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