Pat
J-GLOBAL ID:200903010377826826
光計測方法および装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999255297
Publication number (International publication number):2001074658
Application date: Sep. 09, 1999
Publication date: Mar. 23, 2001
Summary:
【要約】【課題】 試料から発生する蛍光を測定する光計測方法および装置において、光学系の焦点合わせを正確に行なう。【解決手段】 異なる波長領域を備えた複数の励起光源40を備え、これらの複数の励起光源の中の第1の励起光源40-1から発生した第1の励起光を試料に照射することにより試料から発生した蛍光Keを光学系51、52、53、54、55通して検出器60で検出するマイクロアレイ読取装置100であって、この装置に備えられた複数の励起光源40の中から蛍光Keの波長とほぼ等しい波長領域を備えた第2の励起光源40-2を選択し、この第2の励起光源40-2から発生した第2の励起光を試料に照射し、試料で反射された第2の励起光が光学系51、52、53、54、55を通して検出される値が最大となるように第1集光レンズ51の位置を調節してフォーカシングを行う。
Claim (excerpt):
異なる波長領域を備えた複数の励起光源を備え、該複数の励起光源の中の第1の励起光源から発生した第1の励起光を試料に照射し、該照射により前記試料から発生した蛍光をレンズを通して検出する光計測方法において、前記複数の励起光源の中から前記蛍光の波長とほぼ等しい波長領域を備えた第2の励起光源を選択し、該第2の励起光源から発生した第2の励起光を前記試料に照射し、該試料で反射した第2の励起光を前記レンズを通して検出し、該検出される値が最大となるように前記レンズの位置を調節してフォーカシングを行うことを特徴とする光計測方法。
IPC (3):
G01N 21/64
, G01N 21/76
, G01N 33/50
FI (3):
G01N 21/64 F
, G01N 21/76
, G01N 33/50 P
F-Term (48):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA03
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA06
, 2G043GA02
, 2G043GA04
, 2G043GB01
, 2G043GB18
, 2G043GB19
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA09
, 2G043HA15
, 2G043JA03
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043MA01
, 2G045AA35
, 2G045BA11
, 2G045BA13
, 2G045CB01
, 2G045DA13
, 2G045FA11
, 2G045FA29
, 2G045FB07
, 2G045FB12
, 2G045GC15
, 2G045JA01
, 2G054AA03
, 2G054CA22
, 2G054CD01
, 2G054CE02
, 2G054EA03
, 2G054EB02
, 2G054FA12
, 2G054FA17
, 2G054FA19
, 2G054FA32
, 2G054FA33
, 2G054FA45
, 2G054FB01
, 2G054GA05
, 2G054GB02
, 2G054JA02
, 2G054JA10
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